Mehmet Şimşek
Oppo’nun yeni nesil katlanabilir telefonu Find N5, piyasaya dünyanın en ince kitap tarzı katlanabilir modeli olarak sunuldu. Şirketin önceki testlerinde dayanıklılığıyla dikkat çeken bu cihaz, şimdi de ünlü YouTuber Zack Nelson’ın, diğer adıyla JerryRigEverything’in zorlu dayanıklılık testine konuk oldu.
Cihazın yapısal detaylarına bakıldığında, dış ekran çizilmelere karşı camla korunurken iç ekran daha hassas bir yapıya sahip. Yapılan Mohs sertlik testinde dış ekran seviye 6’da çizilmeye başlarken, iç ekran yalnızca seviye 2’de iz bırakmaya başladı. Bu durum, iç ekranın ne kadar dikkatli kullanılması gerektiğini net bir şekilde ortaya koyuyor.
Asıl dikkat çekici kısım ise bükülme testi sırasında yaşandı. Nelson, menteşe yapısına toz zerrecikleri bıraktıktan sonra cihazı kapatıp tekrar açarak menteşenin toza karşı direncini denedi. Her ne kadar menteşe su sıçramalarına karşı dayanıklı olsa da, toza karşı benzer bir koruma sunmuyor. Bu testin ardından ekranın iç kısmında ölü piksel çizgileri oluştu ve cihazın katlanabilir ekranı, dikey yönde yapılan bükülme testinde tamamen işlevsiz hale geldi.
Karşılaştırmak gerekirse, benzer yapıda olan OnePlus Open bu testten başarıyla geçmişti. Bu farkın Oppo Find N5’in ultra ince form tasarımından kaynaklanabileceği düşünülüyor. Daha kalın orta çerçeveler, aynı malzeme kullanılsa bile, yapısal olarak daha sağlam olabiliyor. Şirketin daha önce yaptığı testlerde menteşenin 50 kilograma kadar baskıya dayanabildiği belirtilmişti. Ancak bu testler kontrollü laboratuvar ortamlarında gerçekleştiği için, günlük kullanımda oluşabilecek farklı baskı türlerine karşı aynı direncin gösterilemeyeceği artık daha net görülüyor.
Tüm bu sonuçlara rağmen, Find N5’in menteşe sistemi genel anlamda sağlam yapısıyla öne çıkıyor. Üstelik katlama noktasındaki kırışıklık, önceki modelle kıyaslandığında neredeyse fark edilmeyecek kadar azalmış. Oppo’nun tasarım ve mekanik geliştirme konusunda attığı bu adım, estetik ve kullanım konforu açısından önemli bir ilerleme olarak değerlendiriliyor.
